東京計(jì)器印刷檢測(cè)裝置P-CAP V6檢測(cè)儀

東京計(jì)器印刷檢測(cè)裝置P-CAP V6檢測(cè)儀

東京計(jì)器印刷檢測(cè)裝置P-CAP V6檢測(cè)儀

特點(diǎn)：

圖像清晰，檢測(cè)能力強(qiáng)

最多8道工序同時(shí)檢測(cè)，大幅提升檢測(cè)性能

改進(jìn)了專(zhuān)門(mén)用于條紋檢測(cè)的處理性能

優(yōu)先考慮關(guān)鍵缺陷

通過(guò)標(biāo)記過(guò)程增強(qiáng)密集缺陷檢測(cè)功能

高速數(shù)碼相機(jī)采用原裝鏡頭和LED光源，顯色性和均勻性高

加強(qiáng)應(yīng)對(duì)緊張和曲折波動(dòng)的措施

通過(guò)我們局部圖像偏移處理和自動(dòng)實(shí)時(shí)周邊校正進(jìn)行對(duì)準(zhǔn)，

加強(qiáng)了對(duì)張力波動(dòng)和曲折跟蹤的對(duì)策，并提高了圖案內(nèi)部/輪廓部分的檢查性能。

實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)小型化和高速圖像處理性能

圖像處理板的核心是內(nèi)部開(kāi)發(fā)的動(dòng)態(tài)可重構(gòu)處理器 (DAPDNA)。

實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)小型化和高速圖像處理性能

高可維護(hù)性和可靠性

通過(guò)環(huán)境測(cè)試，通過(guò)減少零件數(shù)量和可靠性實(shí)現(xiàn)可維護(hù)性

功能:

按區(qū)域檢查

標(biāo)準(zhǔn)配備檢查歷史瀏覽功能

支持雙面打印

歷史數(shù)據(jù)的集中化

配備顏色監(jiān)控功能

兼容平板設(shè)備

主要用途:

凹版印刷、柔版印刷、膠印輪轉(zhuǎn)印刷、商業(yè)表格印刷

制膜、單張制作、涂布、覆膜、復(fù)卷、分切加工等

素材檢測(cè)設(shè)備M-CAP V2特點(diǎn)：

可以不選擇設(shè)置場(chǎng)所的靈活布局

廢除了一體式單元的主體控制盤(pán)，由每個(gè)功能的組件構(gòu)成。設(shè)置的自由度提高了。

根據(jù)液晶監(jiān)視器和容易使用的對(duì)話方式的采用操作簡(jiǎn)單。

全新的攝像系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了高分辨率、高速度

通過(guò)采用新開(kāi)發(fā)的數(shù)碼相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了清晰的圖像和高速搬運(yùn)時(shí)微小缺陷的檢測(cè)。

標(biāo)準(zhǔn)配備自主開(kāi)發(fā)的LED照明設(shè)備

根據(jù)專(zhuān)用構(gòu)造判定困難的魚(yú)眼(凝膠)和黑點(diǎn)的篩選也可能。

缺陷圖像放大后顯示清晰

利用人工智能的超分辨率技術(shù)，即使放大顯示缺陷圖像，圖像也不會(huì)變粗糙。

用充實(shí)的數(shù)據(jù)管理提高質(zhì)量管理的效率